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SZT-C型四探针测试台
苏州晶格电子有限公司自主研发生产SZT-C快速恒压四探针测试台,测试台,四探针测试仪,方阻测试仪
苏州晶格电子有限公司自主研发生产SZT-C快速恒压四探针测试台,测试台,四探针测试仪,方阻测试仪
产品类别: SZT-C快速恒压四探针测试仪测试台
上架时间: 2013/5/2 12:49:59
浏览次数: 32114
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产品详细
SZT-C型四探针测试台
操作使用说明书
一 、功能与结构特征概述
基本功能:SZT-C型四探针测试台,是用来装夹四探针探头,连接四探针测试仪器,放置样品,进行手动方式测试的机具。是四探针法测试电阻率/方块电阻(方阻)仪器的配套测量装置(以下简称测试台)。
基本组成:主要有载物台(180mmX180mm净载物面积)、双轨垂直导向单元、测试压力调节单元、探头快速升降扳手(顶部戴红套部分)、探头连接板等单元。
配套与兼容:本测试台可选配本公司所有型号的四探针测试探头,包括钨针四探针探头(测试硬质样品用),镀金合金探头(测试柔性薄膜或涂层方阻专用);本测试台兼容本公司所有四探针测试仪器。本测试台加配本公司探头,可兼容国内同行绝大多数四探针电阻率/方阻测试仪器。
二、可测半导体材料尺寸 (探头手持方式不限)
直径或边长:SZT-C测试台直接测试方式 Φ15~180mm,或180mm×180mm。
长(或高)度: 测试台直接测试方式 H≤160mm, 其他方式不限.
测量方位: 轴向、径向均可
三 、使用方法
五、联系方式:13656225155/0512-80973697 QQ:1064887318 丁先生
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